By:
On:
In: Allgemein

Große und divergente Strahlen im kurzwelligen Infrarotbereich einfach messen Der Ophir WB-I SWIR Profiler ermöglicht es, große und divergente Strahlen im SWIR Bereich zu messen (Bildquelle: @Ophir) Darmstadt, 8.12.21 – Der Ophir Wide Beam Imager SWIR (WB-I SWIR) von MKS Instruments ermöglicht es, Größe und Leistungsverteilung von großen und divergentenRead More →